质子激发X射线光谱,Proton induced X-ray emission spectrometry
Particle induced X-ray emission spectrometry粒子激发X射线光谱
3)X-ray excited emission spectraX射线激发发射光谱
4)x-ray excited luminescence spectrumX射线激发发光光谱
1.The doping ions improve the transmittance and thex-ray excited luminescence spectrum intensity.掺杂的离子改善了晶体的透过率和X射线激发发光光谱强度。
5)Xray Fluorescence Spectrometry粒子激发X射线发射光谱分析
6)X-ray excited optical luminescenceX射线激发发光谱
1.X-ray absorption fine structures(XAFS)andX-ray excited optical luminescence(XEOL)at the Si K and Si L3,2 edge have been used to investigate the optoelectronic properties of Silicon nanowires.采用X射线吸收精细结构谱(XAFS)和X射线激发发光谱(XEOL),在Si的K边和L3,2边研究了硅纳米线的光电特性。
延伸阅读
粒子激发X射线分析分子式:CAS号:性质:用带电粒子(例如质子、α粒子、重离子等)激发待测元素,随后探测其退激时发射出的特征X射线的分析方法。其中应用最广的是质子激发X射线发射分析。